Microscopie Electronique en Transmission (MET)

Le JEOL JEM-F200 est un microscope électronique en transmission (MET) analytique polyvalent fonctionnant à 200 kV et équipé d’une source à émission de champ (Cold FEG). Cette source assure une très forte brillance du faisceau, associée à une faible dispersion en énergie, permettant d’atteindre des performances élevées en imagerie et en analyse à l’échelle nanométrique.

L’instrument est conçu pour combiner haute résolution spatiale et excellentes capacités analytiques. Il permet des observations en modes TEM et STEM, incluant l’imagerie en champ clair et champ sombre, ainsi que des techniques de haute résolution pour l’étude structurale fine des matériaux.

Le JEM-F200 peut être couplé à des systèmes d’analyse chimique tels que la spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie (EDS) et la spectroscopie de pertes d’énergie des électrons (EELS), permettant l’étude élémentaire, chimique et électronique des échantillons avec une grande sensibilité.

Sa conception intègre également des fonctionnalités d’automatisation avancées et une stabilité instrumentale élevée, facilitant les acquisitions reproductibles et les analyses complexes sur une large gamme de matériaux.