Le JEM-2100Plus est un microscope électronique de haute performance conçu pour l’analyse avancée des matériaux, des nano-objets et des systèmes biologiques. Doté d’une interface intuitive et de fonctions de contrôle à distance, il combine MET, STEM, EDS et EELS dans un même instrument. Sa platine goniométrique ultra-stable permet des analyses en tomographie 3D automatisée grâce à la suite logicielle JEOL TEMography™.
Grâce à une optique électronique optimisée — trois lentilles condenseurs indépendantes, Alpha Selector™, microscopie de Lorentz et diaphragmes dédiés — le JEM-2100Plus offre un contraste exceptionnel, une grande précision analytique et une qualité de sonde idéale pour les caractérisations nanométriques les plus exigeantes.
JEOL
Observation en mode TEM de nanoparticules de silice mésoporeuses de type MCM-41 avec une organisation hexagonale bi-dimensionnelle des pores.
Observation en mode STEM de particules pseudo-virales (VLP) après coloration négative.
