Le JEOL JEM-2100F est un microscope électronique en transmission (MET) à émission de champ (FEG) fonctionnant à 200 kV. Sa source à émission de champ assure une forte brillance et une excellente cohérence du faisceau, permettant des performances élevées en imagerie à haute résolution et en analyse à l’échelle nanométrique.
L’instrument est équipé pour réaliser des observations en champ clair et champ sombre, ainsi que des acquisitions en haute résolution (HRTEM). Il permet également la diffraction électronique (SAED, NBD) pour l’étude de la structure cristalline des matériaux.
Le microscope peut être couplé à des techniques d’analyse chimique telles que la spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie (EDS) et la spectroscopie de pertes d’énergie des électrons (EELS), offrant une caractérisation élémentaire et chimique localisée.
Cette combinaison de techniques en fait un outil performant pour l’étude structurale, cristallographique et chimique de matériaux complexes à l’échelle nanométrique.
JEOL
Observation en mode TEM de nanoparticules de silice mésoporeuses de type MCM-41 avec une organisation hexagonale bi-dimensionnelle des pores.
Observation en mode STEM de particules pseudo-virales (VLP) après coloration négative.
